Rappel : Entrée libre sur inscription pour les européens. Les non-européens souhaitant assister à ces journées doivent contacter les organisateurs un mois avant l'événement.
Présentation de la journée :
Les dispositifs dont les performances ou comportements radiatifs sont au cœur de leur fonctionnement sont souvent complexes. Ce bon fonctionnement ne peut être assuré que par des mesures, ou caractérisations, de ces propriétés radiatives. Selon les applications, les systèmes de mesure ou ceux sous test, les méthodes de traitement, de correction, les protocoles expérimentaux, … varient fortement. Mais les contraintes restent les mêmes pour tous ; être capable de mesurer toujours plus d’objets, avec le plus de précision possible et en réduisant au mieux les contraintes opérationnelles.
Ce séminaire sera l’occasion d’organiser un temps d’échange entre les personnes et organisations du monde académique et/ou industriel impliquées dans la caractérisation des/à l’aide d’antennes. Il a pour vocation de faire ressortir les besoins porteurs actuels tout en favorisant l’émergence de nouvelles collaborations autour des problématiques de la métrologie antenne.
Les entités suivantes seront présentes et proposeront une présentation :
Aachen university / Airbus Defense and Space / AnyFields / CEA CESTA / CEA LETI / CentraleSupélec – Paris-Saclay / DGA MI / ENAC / IETR / Institut Fresnel / XLIM / Thales Alenia Space / Thales DMS
Organisation : Nicolas Mézières, Vincent Laquerbe (CNES)
Programme : ci-dessous
Inscription : lien ci-dessous
Pour participer à cet événement, l’inscription est obligatoire.
